آی اِس آی یونی : فروشگاه جامع مقالات ترجمه شده

فروشگاه جامع آی اِس آی یونی: ارائه دهنده برترین تحقیقات و ترجمه سلیس آن

آی اِس آی یونی : فروشگاه جامع مقالات ترجمه شده

فروشگاه جامع آی اِس آی یونی: ارائه دهنده برترین تحقیقات و ترجمه سلیس آن

عنوان انگلیسی مقاله: Fault tolerance and reliability in fieldprogrammable gate arrays
عنوان فارسی مقاله: قابلیت اطمینان و تحمل پذیری در برابر خطا در آرایه های درگاه قابل برنامه ریزی فیلد
فرمت فایل ترجمه شده: WORD (قابل ویرایش)
تعداد صفحات فایل ترجمه شده: 30
ترجمه ی سلیس و روان مقاله فقط به قیمت 14500 تومان! آماده ی خرید می باشد.   
جهت خرید و دانلود محصول اینجا کلیک نمایید.
برای مشاهده نمونه ترجمه ارائه شده به ادامه مطلب بروید...

_______________________________________
چکیده ترجمه:
کاهش قابلیت اطمینان در سطح دستگاه و افزایش  تنوع در پروسه های within-die را می توان از مباحث بسیار مهم برای آرایه های درگاه با قابلیت برنامه ریزی-فیلد(FPGA)  دانست که منجر به توسعه ی پویای خطاها در طول چرخه ی عمر مدار ادغام یافته میشود. خوشبختانه، FPGA ها  توانایی پیکربندی مجدد در فیلد را در زمان اجرا دارند و از ان رو فرصت هایی را به منظور غلبه بر چنین خطاهایی فراهم می سازند. این طالعه یک بررسی جامع بر روی متد های تشخیص خطا و شِماهای تحمل پذیری در برابر خطا را برای FPGA ها و تنزل دستگاه ها و با هدف ایجاد یک مبنای قوی برای پژوهش های آینده در این حوزه ارائه میدهد. همه ی متد ها و شِماها از نظر کمی مقایسه شده اند و بعضی از آنها نیز مورد تأکید قرار گرفته اند.
واژگان کلیدی: قابلیت اطمینان، تحمل پذیری در برابر خطا، درگاه قابل برنامه ریزی فیلد

جهت دانلود محصول اینجا کلیک نمایید

نظرات  (۰)

هیچ نظری هنوز ثبت نشده است

ارسال نظر

ارسال نظر آزاد است، اما اگر قبلا در بیان ثبت نام کرده اید می توانید ابتدا وارد شوید.
شما میتوانید از این تگهای html استفاده کنید:
<b> یا <strong>، <em> یا <i>، <u>، <strike> یا <s>، <sup>، <sub>، <blockquote>، <code>، <pre>، <hr>، <br>، <p>، <a href="" title="">، <span style="">، <div align="">
تجدید کد امنیتی